當(dāng)前位置:首頁(yè)檢測(cè)中心銀河文庫(kù) │ GB/T17626.11-2008電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.11-2008電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

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  • 發(fā)布時(shí)間:2014/11/11 9:21:19
  • 作者:銀河電氣

    GB/T 17626.11-2008電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)為GB/T 17626 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第十一部分。
    GB/T 17626.11-2008電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)等同采用IEC 61000-4-11:2004(ED2.0)。
    本部分適用于額定輸入電流每相不超過(guò)16A連接到50Hz或者60Hz交流網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。
    本部分不適用于400Hz交流網(wǎng)絡(luò)相連接的電氣和電子設(shè)備。這些網(wǎng)絡(luò)的試驗(yàn)將在以后的標(biāo)準(zhǔn)中涉及。
    本部分的目的是建立一種評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度的通用準(zhǔn)則。
    GB/T 17626的本部分中所規(guī)定的試驗(yàn)方法為評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)定義的電磁現(xiàn)象的抗擾度表述了一致的方法。正如GB/Z 18509-2001 中所述的,這是IEC有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)所用的EMC基礎(chǔ)出版物。也正如GB/Z 18509-2001聲明的,有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)確定本抗擾度標(biāo)準(zhǔn)是否適用,若適用,則負(fù)責(zé)確定適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)等級(jí)和性能判據(jù)。電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)和其分委員會(huì)準(zhǔn)備與有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)合作,評(píng)估用于他們產(chǎn)品的特定抗擾度試驗(yàn)值。
    GB/T 17626.11-2008電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)代替GB/T 17626.11-1999電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)。

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